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05
2026
-
06
钙钛矿薄膜激光划线热损伤控制与划线公差精密管控工艺研究
摘要钙钛矿光伏量产中,激光划线产生的薄膜热损伤是造成晶体畸变、组分流失、器件效率衰减的关键工艺缺陷。本文从皮秒激光参数优化 + 低温气氛退火实现热损伤抑制,依托 ...
05
2026
-
06
白光干涉仪(White Light Interferomet...
一、研究背景超薄薄膜构件(Ultra-thin Film Component)是微纳光学、半导体封装(Semiconductor Packaging)、柔性电子(...
05
2026
-
06
MEMS梳齿结构线宽齿距失准,白光干涉仪校准光刻制程修正尺寸...
MEMS 惯性器件性能高度依赖梳齿电容尺寸精度,光刻量产受曝光能量波动、晶圆平整度、掩模形变、显影速率差异影响,普遍产生梳齿线宽偏移、齿距不均、侧壁倾斜等尺寸失准...
04
2026
-
06
USI 白光扫描:透明金属叠层结构微纳形貌失真原理溯源(US...
本文依据白光干涉仪官方技术手册、半导体微纳检测国标规范及《光学学报》《激光与光电子学进展》公开核心研究成果,聚焦半导体透明介质/金属基底叠层微纳结构,溯源USI通...
共83页
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