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17
2026
-
08
盘片热处理形变导致平面度超标(Flatness Overli...
机械硬盘(Hard Disk Drive, HDD)超薄精密金属盘片的热处理(Heat Treatment)工序,用于释放基材残余应力、稳定盘面形貌精度,是硬盘精...
盘片热处理形变导致平面度超标(Flatness Overlimit),光学轮廓仪锁定机械硬盘热加工工艺异常
17
2026
-
08
白光干涉仪(White Light Interferomet...
摘要超薄薄膜(Ultra‑thin Film)是半导体晶圆(Wafer)、微机电系统(MEMS)器件、钙钛矿光电器件的核心功能性薄膜材料。其磁控溅射(Magnet...
白光干涉仪(White Light Interferometer, WLI)全域成像技术对超薄薄膜(Ultra-thin Film) 批量制备工艺异常的识别与分析
14
2026
-
08
光学轮廓仪采集机械硬盘结合面平面度数据(Joint Surf...
机械硬盘(Hard Disk Drive, HDD)壳体结合面密封适配精度,直接决定设备防尘、防漏气性能,是保障硬盘存储运行稳定的核心工艺指标,结合面平面度(Fl...
光学轮廓仪采集机械硬盘结合面平面度数据(Joint Surface Flatness Data),精准研判密封适配工艺异常
14
2026
-
08
超薄薄膜(Ultra-thin Film)工艺畸变与微观缺陷...
超薄薄膜(Ultra-thin Film)广泛应用于半导体晶圆(Wafer)、钙钛矿光伏、微机电系统(MEMS)等核心工业领域。薄膜经溅射(Sputtering)...
超薄薄膜(Ultra-thin Film)工艺畸变与微观缺陷检测,基于白光干涉仪(White Light Interferometer, WLI) 高精度表征方法
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